Влияние низкоуровневого диодного лазера на топографию дентина и симптоматические некариозные шейные поражения перед композитной реставрацией: разделенное случайное контролируемое исследование

Изменение чувствительности при применении диодного лазера перед реставрацией некариозных поражений шейки зуба

Данное исследование оценило изменения чувствительности у пациентов с симптоматичными некариозными поражениями шейки зуба после облучения 3-мя низкоуровневыми волокнами диодного лазера перед реставрацией композитом. Также проанализированы изменения топографии дентина с использованием сканирующего электронного микроскопа (SEM).

Материалы и методы

Девять пациентов с 36 некариозными поражениями шейки зуба были случайным образом распределены внутригруппово в 4 группы на основе волны лазера: симуляция лазера, 445 нм, 660 нм и 970 нм. Для каждого поражения были проведены подготовка полости, облучение и реставрация композитом. Чувствительность к холодным раздражителям измерялась с использованием визуальной аналоговой шкалы (VAS) до вмешательства (базовый уровень) и через 1 день, 14 дней, 1, 3 и 6 месяцев. Чувствительность пульпы измерялась с использованием электрического пульпного тестера (EPT) на базовом уровне, перед лечением, а также через 3 и 6 месяцев. Кроме того, было проведено ин витро исследование на 12 извлеченных человеческих молярах для получения 12 дентиновых дисков. Каждый диск был случайным образом разделен на 4 квадранта для получения одинаковых длин трубочек с использованием SEM. Результаты были статистически проанализированы с использованием теста Фридмана для клинических исследований, а также RM-ANOVA для ин витро исследований, за которым следовал тест Бонферрони в случае значимости (P < .05).

Результаты

Оценки VAS снизились во всех группах, существенное снижение наблюдалось для 660 нм и 970 нм с 14 дней до 6 месяцев, в то время как при 445 нм существенное снижение наблюдалось через 6 месяцев по сравнению с контролем (P < .05). EPT показало существенное снижение уровня порога боли для 660 нм и 970 нм через 3 и 6 месяцев, в то время как для 445 нм существенное снижение наблюдалось через 6 месяцев по сравнению с контролем (P < .05). Средний диаметр трубочек при 445 нм снизился, без существенной разницы относительно контроля, тогда как существенное снижение было обнаружено для 660 нм и 970 нм по сравнению с контролем (P < .05).

Выводы

Перед композитной реставрацией симптоматичных некариозных поражений шейки зуба, диодные лазеры с волной 660 нм показали наивысшее снижение чувствительности, за которым следует 970 нм, в то время как диодные лазеры с волной 445 нм показали наименьшее снижение. Кроме того, диодные лазеры с волнами 660 и 970 нм сократили диаметр дентиновых трубок без вызывающего плавления, как видно на SEM.

Новости медицины